山东理工光电有限公司

半导体激光器特性参数测试系统

产品概要：

LDT-5000特性参数测试仪可用于中、小功率LD的特性参数测试。通过给被测LD逐步增加电流，并采集它的两端电压、输出的光功率和背光电流，得到LD的正向注入电流、正向电压、光输出功率等特性参数。与PC机和相应的应用操作软件构成LD特性参数测试系统，可自动绘制L-I、V-I、Im-I、dV/dI、dL/dI特性参数曲线；并由此计算得到LD的其它特性参数，如：阈

值电流对应的电压（Vth），指定功率点对应的电流（Iop），指定功率点对应的电压（Vop）。测试仪可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线，同时根据需要对所有测试数据进行打印输出。根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括：TO系列、COS、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，以满足科研、生产、教学等需要。

技术指标：

驱动方式 ACC、AMC、APC、AVC

设定电流值If 0～2mA、0～20mA 0～200mA、0～2000mA

工作电压（最大）Vf 5V

PD偏置电压±5V

温度控制范围-10℃～+99.9℃

温度稳定度0.01℃

控制方式PI控制

TEC驱动（最大）5V、5A

温敏电阻选择10K/25℃，B=3450；10K/25℃，B=3900

测试参数：

正向注入电流If

正向电压Vf

流过PD光电流Im

光输出功率Po

V-I特性曲线

功率微分曲线

电压微分曲线

串联电阻Rs

Im-I特性曲线

L-I特性曲线

阈值电流Ith

斜率效率

应用领域：

半导体激光器(LD)生产制造商、半导体激光器(LD)品质检测及科研、光电专业教学实验等。